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仪器编号 CLJC-006
中文名称 X射线荧光测厚仪
英文名称 X Ray Fluorescence
型号及规格 863:Thermo LXR-H
所在城市 广东深圳
主要技术指标

可测元素范围:钛Ti~U

可测多层膜厚:最多6

成分分析:可同时分析30种元素

测试项目

测量常见镀层、涂层厚度,并同时进行成分分析

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